侵权投诉
当前位置:

OFweek传感器网

光学传感

正文

脉冲式激光测距传感器对CCD探测器的影响

导读: 由于激光光源具有亮度高、方向性好等特点,是的CCD器件极易受到强激光的干扰甚至损伤。脉冲式激光测距传感器对CCD探测器的影响相关的研究工作主要集中于连续激光和脉冲激光。

CCD器件是集光电转换、电荷存储、电荷传输等功能于一体的光电成像器件,广泛应用于摄像、监控、测量等领域。由于激光光源具有亮度高、方向性好等特点,是的CCD器件极易受到强激光的干扰甚至损伤。脉冲式激光测距传感器对CCD探测器的影响相关的研究工作主要集中于连续激光和脉冲激光。随着脉冲激光在各个领域的应用增多,我们有必要开展脉冲激光对CCD探测器的影响的研究。

与连续的激光相比,脉冲激光具有较高的功率,容易造成CCD器件的硬损伤,硬损伤机理与脉冲宽度及能量密度大小有关。对于脉冲激光,脉冲宽度远大于电子和离子的能量交换时间以及电子的热传导时间,CCD像元表面硬损伤主要由激光加热作用和等离子体冲击波作用引起,而对于亚皮秒脉冲激光,情况有所不同。脉冲式激光测距传感器对CCD探测器的影响由于CCD器件最易受损伤主要由激光加热作用和等离子体冲击波作用引起,而对于亚皮秒脉冲激光,情况有所不同。

声明: 本文系OFweek根据授权转载自其它媒体或授权刊载,目的在于信息传递,并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责,如有新闻稿件和图片作品的内容、版权以及其它问题的,请联系我们。

我来说两句

(共0条评论,0人参与)

请输入评论

请输入评论/评论长度6~500个字

您提交的评论过于频繁,请输入验证码继续

暂无评论

暂无评论

文章纠错
x
*文字标题:
*纠错内容:
联系邮箱:
*验 证 码:

粤公网安备 44030502002758号