Picarro宣布用于半导体晶圆厂的气体分子污染监测系统

2020-03-25 15:56

Picarro宣布推出经我们完全优化的AMC监控系统——Picarro SAM（取样Sample、分析Analyze和监测Monitor）。该系统由Picarro在业界领先的基于CRDS的传感器组成，该传感器已集成到最新的采样系统中。SAM单元可提供高通量采样，而不会影响传感器的性能。

Picarro AMC Monitoring System

新的Picarro SAM系统是从组件产品到系统解决方案的重大转变。一站式的设计、制造和测试系统的好处包括：

针对Picarro硬件和软件设计且完全集成的系统——无集成兼容性问题

Picarro SAM系统进行过精心优化——系统性能符合Picarro Semi系统规格

新发明的、正在申请专利的气体输送歧管促成了SAM的显着性能优势，使其在很短的时间内达到万亿分之几（ppt）的检测灵敏度，并能快速将SAM系统恢复到基线灵敏度水平。这使得SAM成为在线实时AMC监视系统的理想选择。该系统带有易于使用的图形用户界面，可进行各种图表和趋势分析。

SAM可以配置为从8个或16个端口采样，并且目前可用于检测氨、氟化氢和盐酸，这三个关键AMC会影响半导体晶圆的产量。展望未来，我们将根据Picarro的半导体产品路线图为其它气体提供SAM系统。

SAM系统路线图还将支持复杂的AMC分析，以帮助客户更准确地快速识别AMC事件的位置，从而允许采取更快的纠正措施，以提高与AMC相关的晶圆产量。

声明： 本文系OFweek根据授权转载自其它媒体或授权刊载，目的在于信息传递，并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责，如有新闻稿件和图片作品的内容、版权以及其它问题的，请联系我们。

共0条评论，0人参与

登录登录即可访问所有OFweek服务

请输入评论内容...

请输入评论/评论长度6~500个字

暂无评论

图片新闻

行业报告